超細(xì)化、納米化是現(xiàn)代粉體材料研究和生產(chǎn)的趨勢(shì)，為滿(mǎn)足對(duì)這些材料的粒度分析，激光粒度儀的測(cè)量范圍也向超細(xì)化、納米化方向發(fā)展，所以現(xiàn)代高性能的激光粒度儀的測(cè)量下限已經(jīng)達(dá)到 20nm 甚至 10nm，而樣品折射率（包括收率）是Mie散射求解的一個(gè)重要條件，如果折射率錯(cuò)誤，將導(dǎo)致粒度測(cè)試結(jié)果錯(cuò)誤。隨著新材料、合成材料以及混合材料越來(lái)越多，用常規(guī)手段測(cè)試這些材料的折射率很困難，這是粒度測(cè)試遇到的難題。為解決這個(gè)難題，百特研制成功了利用高性能激光粒度儀測(cè)量樣品折射率的方法，在粒度測(cè)試前先測(cè)量折射率和吸收率，保證了對(duì)新材料粒度測(cè)試的準(zhǔn)確性，收到了很好的效果。