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簡(jiǎn)要描述：BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測(cè)納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-09-03訪 問 量： 5371相關(guān)文章
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產(chǎn)品介紹
BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測(cè)納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。它基于動(dòng)態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測(cè)器在背向 173°角檢測(cè)樣品顆粒布朗運(yùn)動(dòng)造成的散射光強(qiáng)隨時(shí)間的波動(dòng)，再通過相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得出樣品的自相曲線，結(jié)合數(shù)學(xué)方法就可以得到顆粒的擴(kuò)散系數(shù)，進(jìn)一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結(jié)果。
基本性能指標(biāo)
粒徑檢測(cè)
粒徑范圍 | 0.3 nm – 10 μm |
最小樣品量 | 40 μL |
檢測(cè)角度 | 173° |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
分子量測(cè)試
分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測(cè)試
測(cè)試能力 | 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span> |
趨勢(shì)測(cè)試
| 模式 | 時(shí)間和溫度 |
系統(tǒng)參數(shù)
| 溫控范圍 | -15°C - 120°C |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮?dú)?/span> |
標(biāo)準(zhǔn)激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
相關(guān)器 | 快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動(dòng)態(tài)線性范圍 |
檢測(cè)器 | APD （高性能雪崩光電二極管） |
| 光強(qiáng)控制 | 0.0001% - 100%，手動(dòng)或者自動(dòng) |
檢測(cè)參數(shù)
●流體力學(xué)直徑 DH
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●顆粒間相互作用力因子 kD
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
●分子量
●溶液粘度和折光指數(shù)
●溶液流變學(xué)信息G*，G‘，G“，η*，J
檢測(cè)技術(shù)
●動(dòng)態(tài)光散射
●靜態(tài)光散射
選配件
●動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式
BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離，依次流出。通過檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào)，并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào)，得到高分辨率且不依賴于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。
●0°光電模塊
0°PD+CMOS模塊，分散液折射率，沉降法粒度和顆粒物濃度測(cè)試。
產(chǎn)品咨詢
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